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第13回 フリートーキング“Imaging Today”
「最新の粉体計測技術」
 日本画像学会編集委員会では学会誌に毎号Imaging Todayを特集しております。会員の皆様にテーマ内容をより理解を深めていただくことを目的として、年2テーマを選び4月と10月に「フリートーキング “Imaging Today”」を企画しております。Imaging Todayの執筆者の方に講演をしていただき、その後に質疑応答の時間を充分にとることにより、気軽な雰囲気で知識を深めていただくことを期待しております。また、フリートーキング終了後ささやかではありますが懇親会も予定しております。講演者および会員相互の交流の場として活用いただければ幸いです。

 第13回フリートーキングの内容は表題のテーマを予定しております。講演は、本学会誌通巻170号のImaging Today執筆者の皆様にお願いしております。会員、維持会員の皆様の積極的な御参加をお願い致します。
日時: 2008年4月25日(金)10:30〜18:30
場所: 日本印刷会館
(東京都中央区新富1丁目16番8号 Tel;03-3551-5011)
会場へのアクセス:
地下鉄有楽町線新富町駅・日比谷線築地駅下車徒歩3分,JR京葉線八丁堀駅下車徒歩10分
http://www.jfpi.or.jp/kaikan/
参加費: 会員3000円、非会員5000円、学生1500円
◆参加費には講演資料(日本画像学会誌170号)と懇親会費を含みます。
参加ご希望の方は、本文に氏名・所属,会員/非会員/学生の別を記入し、日本画像学会事務局(eventisj-imaging.org)までメールでお申し込み下さい(定員80名)。
なお、参加費(懇親会費込み)は当日、会場で集めます。(当日申し込みも可能です。)

プログラム
「最新の粉体計測技術」
(日本画像学会誌170号掲載)


10:30〜10:40 開会の挨拶
日本画像学会誌編集委員長 北久保 茂
10:40〜11:20 粉体粒度分布測定技術
日機装株式会社  高野 正雄
11:20〜12:00 粒子形状測定技術
シスメックス株式会社  櫻井 智宏
<昼食 12:00〜13:30>
13:30〜14:10 粉体層せん断力測定装置を用いた粉体の流動性評価
株式会社ナノシーズ  王 亮 
14:10〜14:50 粉体表面物性測定技術 ガス吸着法〜水銀圧入法
株式会社島津製作所  鷲尾 一裕
<休憩 14:50〜15:10>
15:10〜15:50 帯電量 (q/m)測定技術 (吸引式帯電量測定)
トレック・ジャパン株式会社  上原 利夫
15:50〜16:30 トナー付着力測定と表面改質による付着力の制御効果の評価
株式会社ナノシーズ  島田 泰拓
16:30〜16:35 閉会の挨拶
日本画像学会編集委員会
16:45〜18:30 懇親会

本企画担当編集委員:山崎(コニカミノルタビジネステクノロジーズ)、竹内(キヤノン)、木村(富士ゼロックス)
フリートーキング担当:永戸(東芝)、緒方(コンサルタント)、鈴木(リコー)、北久保(日本工大)

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